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【高溫老化房】的主要功能及測試意義
發(fā)布日期:2019-11-26 13:42
高溫老化房要達到滿(mǎn)意的合格率。幾乎所有產(chǎn)品在出廠(chǎng)前都必須進(jìn)行老化。
 
在半導體工業(yè)中,關(guān)于器件老化的爭論很多。像其他產(chǎn)品一樣,由于各種原因,半導體可能隨時(shí)失效。高溫老化房的老化是為了使半導體過(guò)載,從而在短時(shí)間內發(fā)生缺陷,以避免早期使用中的故障。如果不老化,由于設備和制造工藝的復雜性,許多半導體產(chǎn)品將在使用中引起許多問(wèn)題。
 
在使用后數小時(shí)至數天之內發(fā)生的缺陷稱(chēng)為早期故障,而在故障后老化的設備基本上需要100%消除由該時(shí)間引起的故障。準確確定老化房老化時(shí)間的唯一方法是參考以前收集的老化故障統計信息和老化房的故障分析。大多數制造商都希望減少或消除老化。
 
老化房的老化過(guò)程必須確保工廠(chǎng)的產(chǎn)品滿(mǎn)足用戶(hù)對可靠性的要求。另外,它還必須提供工程數據以改善設備的性能。
 
在高溫老化房中進(jìn)行老化測試的意義如下:
電子和電氣產(chǎn)品,無(wú)論是組件,零件還是完整的設備,都必須進(jìn)行老化和測試。
老化和測試不是一個(gè)概念。您必須在老化之前進(jìn)行測試。
 
電子產(chǎn)品是通過(guò)制造制造的,形成了可以使用的完整產(chǎn)品。但是,使用該產(chǎn)品后,發(fā)現會(huì )出現此類(lèi)小故障,并且發(fā)現這些小故障大多數發(fā)生在數小時(shí)至數十次之內。數小時(shí)之內,電子產(chǎn)品的老化和測試就開(kāi)始了。然后簡(jiǎn)單規定。模擬等效或超出產(chǎn)品使用狀態(tài)的過(guò)程由產(chǎn)品制造商完成。
 
通過(guò)重新測試,將有問(wèn)題的產(chǎn)品留在維修線(xiàn)上,將沒(méi)有問(wèn)題的產(chǎn)品提供給用戶(hù),以確保提供給用戶(hù)的產(chǎn)品可靠或出現問(wèn)題的可能性較小。這就是老化測試的含義。
 
 

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